The Li(i = l,
β, and γ)–to-Lα X-ray intensity ratios of Tl in some thallium
compounds were measured by EDXRF spectrometer. These compounds were excited by 59.5 keV gamma-rays from
a 241Am annular radioactive source. L X-rays emitted by the
compounds were counted using an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV
at 5.9 keV. Li–to-Lα X-ray intensity ratios of Tl in these compounds
are compared with that of the pure Tl calculated theoretically. While the values of Ll/Lα
and Lγ/Lα intensity
ratios are compatible with the theoretically calculated value, the
values of Lβ/Lα intensity ratios have differences.
Thallium intensity ratio EDXRF chemical effect multiple ionization effectt
Bazı talyum bileşiklerindeki talyumun Li/Lα (i = l,
β and γ) X-ışını şiddet oranları EDXRF spektrometresi yardımıyla ölçüldü. Bu
bileşikler 241Am halka radyoaktif kaynağından
yayımlanan 59.5 keV enerjili gama ışınları ile uyarıldı. Bileşiklerden
yayımlanan L X-ışınları rezülasyonu 5.9 keV’ta 150 eV olan Ultra-LEGe dedektör
ile sayıldı. Bu bileşiklerdeki talyumun Li/Lα X-ışını şiddet oranları saf talyum için teorik olarak hesaplanan
değer ile karşılaştırıldı. Ll/Lα ve Lγ/Lα
değerleri teorik olarak hesaplanan değer ile uyumlu iken, Lβ/Lα X-ışını şiddet oranı değerleri
farklılıklara sahiptir.
Talyum şiddet oranı EDXRF kimyasal etki çoklu iyonizasyon etkisi
Birincil Dil | İngilizce |
---|---|
Konular | Eczacılık ve İlaç Bilimleri |
Bölüm | Natural Sciences |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 22 Mart 2019 |
Gönderilme Tarihi | 19 Aralık 2018 |
Kabul Tarihi | 10 Ocak 2019 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2019Cilt: 40 Sayı: 1 |